| 详细介绍 |
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遵照 ASTM E1461 标准，Nanoflash 使用氙灯作为加热源加热样品表面，使用红外探测器读取样品温升，减少了潜在的表面热阻，可以精确测量薄的样品如基质上的涂层、薄膜材料或三明治样品。Nanoflash 操作便捷，测量速度快，性价比高，其所测量的热扩散系数范围十分宽广，覆盖从聚合物到金刚石各类材料领域。
Nanoflash 的操作实现高度自动化：由软件控制测试温度与闪光灯启闭，并进行数据分析。自动进样系统允许仪器在一次测试过程中测量多个样品。在炉体到达设定温度后，每一数据点的采集通常短于五分钟。仪器可以为每一样品单独设置闪光能量等级、脉冲宽度与温度。 |
| 功能描述 |
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| 温度范围： |
RT ～ 200℃ |
| 其它 |
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作为加热源的氙灯发射一束脉冲，打在样品的下表面，由红外探测器测量样品上表面的相应温升，并由软件计算出样品的热扩散系数。仪器可以同步测量热扩散系数（α）与比热（Cp）。若已知样品的密度（ρ），则可计算出样品的导热系数 |
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